テスターアプリの構築

仕様設計やテストプログラム開発、デバッグを行っています。
LTX/Credence, Teradyne IP750、Advantest T2000テスタに対応したテストプログラム開発が可能です。LSIテスタに対応したテストプログラムやテストパターン設計を短納期で開発致します。
テストタイムの最適化、マルチサイト測定等、量産時のテストコスト削減を意識したプログラム開発をご提案しています。

プログラム開発だけでなく、プローブカードやテストボード等の治工具作成、量産立ち上げも可能です。
半導体テストシステム開発のノウハウをもとに、各種システム開発の受託をしております。またこれらに加えソフトウェア/ファームウェア開発も手掛けております。

ご質問やお問い合わせは、ATE@fujikom.com までお願いします。